ASTM D 5590-2000 用加速的四周琼脂平面培养分析测定漆膜及有关涂层耐霉菌损坏的标准试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-28 17:26:34 浏览:9850
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforDeterminingtheResistanceofPaintFilmsandRelatedCoatingstoFungalDefacementbyAcceleratedFour-WeekAgarPlateAssay
【原文标准名称】:用加速的四周琼脂平面培养分析测定漆膜及有关涂层耐霉菌损坏的标准试验方法
【标准号】:ASTMD5590-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:87_040
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:用加速的四周琼脂平面培养分析测定漆膜及有关涂层耐霉菌损坏的标准试验方法
【标准号】:ASTMD5590-2000
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2000
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A29
【国际标准分类号】:87_040
【页数】:4P;A4
【正文语种】:英语
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